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德國bst-procontrol傳感器IREX-RS/CW/XCMONESPLIT
厚度測量
厚度測量有許多可能性，包括傳輸方法，超聲波和紅外傳感器以及光學三角測量原理。
INDIAIR傳感器
測量系統(tǒng)由上下傳感器組成。后者是磁/渦流間隔系統(tǒng)，其確定到參考板的距離，參考板又是上傳感器的一部分。兩個傳感器之間的片材影響板的*部和底部之間的距離，從而可以提供原始測量信號。
INDISPECTRO
測量基于光學層厚度與光波長的比較。入射在透明層上的光在上界面和下界面處部分反射。
INDIRAY 標準X射線傳感器<5KV /擴展范圍
紅外反向散射傳感器IREX-RS / CW /XCMONESPLIT 相同點技術
紅外傳感器通常作為反向散射傳感器提供，具體取決于應用，但也可以作為傳輸傳感器的結構。CONESPLIT SameSpot技術基于**測量方法，用于直接（選擇性）在線涂層厚度測量，是BST ProControl**的賣點。
當通過透射方法測量時，發(fā)射器和檢測器彼此相對安裝，待測材料置于其間。輻射被待測材料衰減，衰減取決于待測材料的密度，厚度和成分。
超聲波傳感器
傳感器根據(jù)脈沖回波測量方法工作，即發(fā)射超聲脈沖，由測量對象反射并再次接收。從脈沖的持續(xù)時間開始，測量物體的距離被確定為傳感器。
激光傳感器
傳感器基于三角測量方法。這里，聚焦紅外光束在待測材料上產生光點，其反射部分由傳感器中的PSD / CCD檢測器檢測。檢測器的檢測允許***計算到待測材料的距離。
同位素反向散射傳感器
同位素反向散射傳感器是用于基重測量的非接觸式測量方法。基于由待測材料反向散射的放射性輻射部分，確定基重。
基于攝像頭的傳感器
DELTA MASTER 3傳感器使用光學三角測量原理。可以通過將精細的測量線投射到材料上并通過幾何超穩(wěn)定的矩陣CCD相機進行檢測來測量表面。測量數(shù)據(jù)的評估基于數(shù)字圖像處理的方法。
SHADEX傳感器
非接觸式測量原理基于線性扇出激光束的***定義。產品的厚度導致測量范圍內的陰影，并且對接收二*管有成比例的影響。距離測量系統(tǒng)補償傳感器和參考輥之間的距離變化，由此在特殊信號處理方法中評估值，并且可以***地確定材料厚度。
PC16S 波
發(fā)射傳感器PC16S -wave措施的基礎重量或厚度flachbahniger材料，并使用用于非接觸測量過程非電離，電磁波。這使其成為***和快速測量聚合物基單膜的理想選擇。與基于電離輻射的傳感器相比，該傳感器***了運輸，操作和處置所需的國家或國際法規(guī)要求。
涂層厚度測量
在涂層厚度測量領域，除紅外傳感器和傳輸傳感器外，BST-ProControl還提供光學層厚度與光波長的比較。
密度測量
此外，在密度測量領域，非接觸式測量方法和用于直接（選擇性）在線涂層厚度測量的**方法也是合適的
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